英國易高456膜厚儀

適用于各種金屬基體的涂層測量，性能優越，經濟實用，極具特色
* 基本型操作簡單，經濟耐用；標準型具數據輸出功能，可連接計算機進行數據處理和打印；高級型，功能更趨完善。度身設計配合不
  同應用。
* 整體探頭可直接入在涂層上讀數，簡單易用，有鐵基、非鐵基、二合一標準式控頭可供選擇。
* 分離式探頭有標準式、直角式及伸縮式設計，其中標準式、直角式探頭適用于各種金屬基體的平面、曲面深層測量，有鐵基、、非鐵
  基三合一標準式及直角式探頭可供選擇；伸縮式探頭適用于鋼鐵基體圓形工件的涂層測量，只有鐵基探頭可供選擇。
* 測量范圍0~1500um，分辯率0.1um(0-20um)/1um(20um以上)，精確度：±3%或2.5um（參考有關產品詳細說明書）。
* 配PINIPTM可于整體式探頭上直接插用分離式探頭。
* 456為2001年elcometer最新型號，人性化設計，外型流暢，易于把握。">