布魯克AnasysnanoIR2-FS掃描近場光譜和成像系統納米紅外光譜
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消除分析化學研究人員的擔憂--與FTIR光譜完全吻合,沒有吸收峰的任何偏移
l 使用金屬鍍層AFM探針代替傳統光纖探針來增強和散射樣品納米區域內的光輻射,空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑決定
l 專利技術實現智能的光路優化調整,無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度
l 最準確的定性微區化學表征,得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國權威機構的認可
l 簡單易用的操作,被三十多位企業用戶和近百位學術界所選擇
l 基于DI傳承的多功能AFM實現納米熱學,力學,電學和磁學測量:
l 納米熱分析模塊(nanoTA, SThM)
l 洛侖茲接觸共振模塊(LCR)
l 導電原子力顯微鏡鏡(CAFM)
l 開爾文電勢顯微鏡(KPFM)
l 磁力顯微鏡(MFM)
l 靜電力顯微鏡(EFM)