大屏幕光學測試系統-顯示屏光學檢測-Microvision-SS450

型號：SS445

品牌：Microvision

描述：SS445系統是專門為大屏幕投影顯示測量而設計一款產品，適用于所有投影技術，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計算機控制的Pan & Tilt定位系統，從而移動到所需的測試點，配置的140萬像素CCD相機，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進行測量，從而更好地表征用戶體驗。

工作原理：

SS445是專門為大屏幕顯示器設計的顯示測量系統。這包括采用任何現有投影引擎技術的，直至劇院大小的投影顯示器。該系統使用電動平移和傾斜機構移動到所需的測試位置。該系統可以配置有1.4MP CCD相機和/或衍射光柵光譜儀。在操作過程中，系統位于待測顯示器的前面。圖形生成器或Microvision的MVRemote用于自動顯示測試圖形，或者如有需要，客戶的系統可以生成圖像。SS445旨在從觀察者的角度對顯示器進行測量，從而更好地表現出實際看到的顯示器性能。可以快速測量幾個觀察者位置，從而完全定義顯示。在操作員輸入所需的測試位置（X＆Y或像素坐標）的情況下，測試可以完全自動化，并且系統將在這些位置自動查找并運行選定的測試。

產品亮點： 

l 適合超大屏幕測量

l 基于觀測者角度測量，更好地表征用戶體驗

l 多功能集合體，設計緊湊

l 包含集成信號源

l 具備MV remote模式，通過WiFi連接和測量移動設備

l 自動化測試

l 程序自動控溫，精確測量

l 包含MV系統軟件，操作界面友好

l 提供完整測試方案

l 用戶可自定義客制化測試

l NIST可溯源校準 

應用范圍： 

l 投影顯示 - DLP、LCOS、家用投影、影院投影、后屏投影儀、仿真器等

l 平板顯示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

l CRT顯示 - 單色，彩色，高分辨率醫學顯示器

升級選項： 

l 精準位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實現自動測試） 

l 提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）

技術參數： 

CCD相機

圖像傳感器：1392x1040 像素

數字視頻：12-位 

元件尺寸：6.45 μm/像素

同步性：同步捕獲

濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND

標準鏡頭：25mm C mount, f1.6 - f16

視場：20mm@1m,可調節

工作距離范圍：0.5~3.5 m

亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A

亮度范圍：0.05 ~ 10⁶ cd/m² （含ND濾鏡）

測量時間：對于多數測量<1 sec

Spectrometer + Goniometer 光譜輻射計+測角儀

測角儀傾斜角：0~85°

測角儀方位角：0~360°

波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)

亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m²

亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A

亮度重復率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m²靈敏度@ 3% RSD

色彩準確度：± 0.002 @ 2856K Ill.A

色彩重復率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A

溫度管理：電腦自動控制

光學器件：12mm 準直 

視場角：1.5°

數字分辨率：16 bit A/D

積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)

光學分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫

校準：NIST可追溯 

操作溫度：5~ 30℃

Pan & Tilt 位移臺

分辨率：0.0032°

載荷量：9 lbs

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