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SEKIDENKO-OR4000T-光纖測溫儀和-OR4000E
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Advanced Energy 的 OR4000 多通道光纖測溫儀 (OFT) 基于非常成功的 OR2000 產品系列開發,為眾多溫度測量應用提供了業界領先的非接觸性溫度測量。 OR4000T 向要求最苛刻的溫度測量應用提供多通道功能和高達 2 kHz 的讀取速率。 OR4000E 還增添了實時輻射率補償功能。 該儀器采用模塊化設計,能夠快速調整以滿足各個工藝應用的獨特要求。
提高溫度測量的精度測量
Advanced Energy 的 OR4000T 和 OR4000E 多通道光纖測溫儀 (OFT) 以一個緊湊的模塊化平臺提供精確的非接觸式溫度和輻射率測量,旨在滿足各個獨特應用的需求。 AE 的 光纖測溫儀 非常適合在控制最嚴格的應用中測量溫度,這類應用需要保證一致且可重復的溫度讀數以確保工藝成功。
根據應用可選擇工藝設備有:
? OR4000T 用于快速熱處理 (RTP)、激光退火、高密度電漿化學氣相沉積(HDP-CVD)、金屬有機化學氣相沉積
(MOCVD)、原子層沉積 (ALD)、紫外線硬化、太陽能電池封裝和硬盤 (HDD) 處理。
? OR4000E 用于外延 (Epi)、化學氣相沉積 (CVD)、金屬有機化學氣相沉積 (MOCVD)以及襯底發射率發生變化的其他工藝。
增強重復性并盡量減少偏差
傳統的熱電偶測量方案不適合許多應用領域,由于熱傳遞效應,與基底進行物理接觸會造成損害并導致讀數不精確。 OR4000T 和 OR4000E 在原位測量直接目標的溫度,與被測量的物體不接觸,可以增強點到點均勻性并提高溫度讀數的精確度。
每個 OFT 系統都由一個控制器、一個光學傳感器和多條光纜組成。 傳感器探測目標(一般是襯底)釋放出的近紅外線 (NIR)。 之后光纖將近紅外線光從傳感器傳輸到控制器,傳感器將采集的光轉換成溫度讀數。 使用光纖可以對控制器進行遠程定位,使之處于一個遠離工藝腔室的可控環境中。
每個傳感器都經過定制設計,以滿足每個獨特應用的功能和機械要求。 結果實現: 可靠測量、更高重復性和更高
良品率。
提高生產率、產額和產量
OR4000T 和 OR4000E 都提供了高速性能,讀取速率高達 2 kHz,可以精確跟蹤快速的溫度變化。 在動態應用中,這可以實現閉環溫度控制并優化工藝良品率。