奧林巴斯相控陣TOFD-焊縫雙晶陣列探頭-手動接觸式探頭
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焊縫系列探頭
焊縫檢測探頭的線纜會從其外殼的前面或頂部伸出,這樣就可以避免線纜纏繞到掃查器的探頭架。這些探頭適用于對焊縫進行的手動和自動檢測。A31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊以其簡約的設計,不僅使焊縫檢測得到了簡化和標準化,而且還改進了信噪比。
在被動軸上聚焦(PAF)的楔塊
這個已獲專利的聚焦楔塊系列在對管道周向上的環焊縫進行檢測時,有助于補償聲束在被動軸方向的發散現象。寬度較小的聲束可以對掃查軸方向上的較短的缺陷進行定量,從而有助于降低報廢率,并提供更清晰的圖像。
用于檢測焊縫的雙晶陣列探頭
雙矩陣(DMA)探頭包含兩個與同一個連接器連線的矩陣探頭,具有使用發送-接收縱波(TRL)聲束進行檢測的能力。這類探頭在檢測帶堆焊層的管道或具有高衰減性的材料時,特別有用。
用于腐蝕檢測的雙晶陣列探頭
雙晶線性陣列探頭,在腐蝕檢測應用方面,為檢測人員提供了多種優于常規超聲雙晶探頭的優勢。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度,以及具有更高數據點密度的C掃描成像功能,從而可提高檢測效率。
HTHA探頭
在探測高溫氫致(HTHA)缺陷的應用中,這些優化的雙晶線性陣列探頭和全聚焦方式(TFM)探頭可以提供更寬泛的掃查角度范圍和擴展的聚焦范圍,而且在使用較高的增益時,還可以提高信號響應的質量。
手動接觸式探頭
奧林巴斯用于手動接觸式檢測的A24探頭系列擁有一個符合人體工程學要求的外殼設計,其薄膜可以更換,可以提供較大的正方形孔徑,因而可用于多種不同的應用。厚度為0.5毫米的薄膜更便于核查耦合情況,使探頭在粗糙的表面上順滑地移動,而且可以防止探頭受到磨損。