Premosys eFLAT-HG-II-8照度計

Premosys eFLAT-HG-II-8照度計

eFLAT-HG-II：靈活的光分析儀和測試系統

用于測試具有高分辨率 PWM 的光源。

Premosys 開發了 eFLAT-HG-II，用于測試高分辨率 PWM 模塊以及極弱照明 LED。以太網接口可實現快速通信，并允許系統直接集成到網絡中。用戶可配置的靈敏度和積分時間組合可實現非常短的循環時間。 

返回 LED 測試系統概述

技術數據

具有 4、8、12 和 16 個光通道的系統，用于并行測量

靈敏度 0.7 至 600,000 Lux

周期時間范圍為 81 ms 至 1054 ms（靈敏度和積分時間的可配置組合）

x、y、Y、色溫和主波長的測量值輸出

光譜分辨率低至 1 nm

可檢測波長 400nm - 700nm

每個測量通道的光學結果顯示

每個測量通道最多 255 次用戶校準

用戶可以進行勒克斯校準

板載快速以太網和數字接口

電源電壓 12 至 27 V DC，最大值 0.3A（12V 時）

多語言軟件工具

可選的 WIN 32 低級 DLL

可選的 LabView 驅動程序

eFLAT-HG-II：靈活的光分析儀和測試系統

用于測試具有高分辨率 PWM 的光源。

Premosys 開發了 eFLAT-HG-II，用于測試高分辨率 PWM 模塊以及極弱照明 LED。以太網接口可實現快速通信，并允許系統直接集成到網絡中。用戶可配置的靈敏度和積分時間組合可實現非常短的循環時間。 

返回 LED 測試系統概述

技術數據

具有 4、8、12 和 16 個光通道的系統，用于并行測量

靈敏度 0.7 至 600,000 Lux

周期時間范圍為 81 ms 至 1054 ms（靈敏度和積分時間的可配置組合）

x、y、Y、色溫和主波長的測量值輸出

光譜分辨率低至 1 nm

可檢測波長 400nm - 700nm

每個測量通道的光學結果顯示

每個測量通道最多 255 次用戶校準

用戶可以進行勒克斯校準

板載快速以太網和數字接口

電源電壓 12 至 27 V DC，最大值 0.3A（12V 時）

多語言軟件工具

可選的 WIN 32 低級 DLL

可選的 LabView 驅動程序